触发式测头和扫描式测头的区别与应用选择

在数控测量系统中，触发式测头和扫描式测头是最常见的两种类型。两者在工作方式、应用场景与测量精度上各有差异，本文将为您详解其区别与选型建议。

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一、触发式测头（Touch Probe）

原理：

- 当测头接触工件表面时触发信号；

- 系统记录该点坐标。

特点：

- 适用于点位测量

- 测量速度快，精度高；

- 安装简单，成本较低。

应用场景：

- 工件基准找正；

- 工件尺寸定位；

- 刀具长度测量。

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二、扫描式测头（Scanning Probe）

原理：

- 测头在工件表面连续滑动；

- 实时采集大量点位进行曲面分析。

特点：

- 适用于曲面、轮廓、复杂几何测量

- 精度极高；

- 对主轴稳定性、环境要求高。

应用场景：

- 高精度模具测量；

- 精密曲面检测；

- 自动闭环加工控制。

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四、结语

选择触发式测头还是扫描式测头，应根据加工需求与预算决定。苏州汉测测量设备有限公司可为您量身定制测头解决方案，适配各类机床与控制系统。